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J200飞秒激光剥蚀进样系统

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更新日期2021-09-15 06:19

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详细说明

J200飞秒激光剥蚀进样系统应用方便、使用简单、安全到位、响应速度快,该设备功能直观、带图形界面,易浏览不同的样品区域,设立灵活的采样方式,用户可完全依靠J200系统输送高质量的样品颗粒到ICP-MS系统,测量叶片内部不同部位的元素变化情况以及特定元素的分布情况,飞秒激光剥蚀进样系统有30多年激光剥蚀技术的基础研究经验和LA-ICP-MS方法的研究背,这是采用长脉冲激光技术无法达到的,用户简单、方便地操作硬件部件。只需简单点击tab键,用户即可检查飞秒激光。

基本参数:
1、激光脉冲能量:343nm-1030nm;
2、样品成像光源: 泛光LED灯;
3、供电要求:110-240VAC,50/60Hz;
4、产品尺寸:1780X660X760mm;
5、自动X-Y轴:100mmX100mm行程范围,
6、分辨率:0.2微米;
7、重量:272Kg。

设备特点:
1、自动高度调节传感器、样品室等部件的工作状态;
2、测量叶片内部不同部位的元素变化情况以及特定元素的分布情况;
3、两个相机提供广角和放大的样品图像和广角图像呈现;
4、同步开关确保稳定的ICP-MS等离子体状态。

J200飞秒激光剥蚀进样系统设立灵活的采样方式,用户简单、方便地操作硬件部件,自动高度调节传感器、样品室等部件的工作状态,不同用户组可赋予不同的使用权限,样品成像光源:泛光LED灯,同轴反射光和透明光源,正交十字光,J200系统产生的样品颗粒均匀一致,且尺寸分布合理一般在10-200nm,具备智能输送和补充气控制功能,使每种气体按预定的方式达到设定值,同步开关确保稳定的ICP-MS等离子体状态。

 
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